1MHz C-V Meter

C-V Messung zur Durchführung von Dotierungsprofil von Wafern

C-V Charakterisierung und Sortierung von Varaktordioden

Kapazitätsprüfung von HF-Mischern und Schaltdioden

Testen von Kondensatoren mit einem angelegten Bias für eingehende Inspektion

GPIB-Schnittstelle für Hochgeschwindigkeits-Datenakquisition

Messzeit-Modi: 10 ms / 20 ms / 30 ms

Messgenauigkeit: 0,1% (20 ms)

Internes DC Bias: 0 bis +/-38 V, 0,1% programmierbares Sweep

Messbereich: 0,00001 pF bis 1280 pF

€ 4.850 (net) $5.820 (US)